Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.
Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data
Apa tujuan dan pendekatan risetnya?
CFDRC menggabungkan eksperimen dengan model fisika perangkat untuk memahami degradasi serta kegagalan SiC. Pekerjaan sebelumnya mengimplementasikan model dioda JBS dalam NanoTCAD dan menyediakan panduan kepada Wolfspeed untuk fabrikasi varian baru. Pengembangan lanjutan menilai trade-off performa listrik serta radiasi dan memperbesar daerah operasi aman pada tegangan lebih tinggi. Riset berfokus pada pedoman desain yang dapat diuji, sebelum komponen dipindahkan ke sistem pengelolaan dan distribusi daya NASA atau aplikasi lain.
Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan NASA TechPort. Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.
Baca uraian penerbitManfaat yang dituju
Mendukung pengembangan komponen daya SiC yang lebih ringan dengan ketahanan lingkungan radiasi yang terukur.
Sasaran manfaat bukan jaminan kinerja, adopsi, atau ketersediaan produk.
Konteks pengembangan
- Institusi pemimpin
- CFD Research Corporation
- Program
- Small Business Innovation Research/Small Business Tech Transfer
- Periode proyek
- 2022-08-03 → 2023-08-04
Klasifikasi NASA
- TX03.3.4 — Advanced Electronic Parts
Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.
Apa yang diketahui tentang statusnya?
TRL adalah tingkat kesiapan teknologi yang dilaporkan penerbit, pada skala 1–9. Nilai target akhir menunjukkan sasaran. Status “Completed” berarti proyek telah selesai menurut pencatatan NASA; status tersebut tidak membuktikan bahwa seluruh sasaran kinerja telah tercapai.
Batas informasi
Profil ini menjelaskan ruang lingkup riset dari catatan penerbit. Target pengembangan dan TRL akhir bukan bukti keberhasilan, ketersediaan produk, atau kelayakan penerapan. Tinjauan ahli dan pengujian performa independen belum dilakukan.
Dasar profil
- NASA TechPort: Characterization and Mitigation of Radiation and High Temperature Effects in SiC Power Electronics ↗
NASA TechPort · Pembaruan sumber 01/22/26
Diakses 2026-10-13. Rujukan primer dengan atribusi. Uraian Indonesia adalah parafrasa editorial; hak dokumen dan aset upstream mengikuti pemiliknya.