Teknologi.Bagian dari ensiklopedia.onlineCari/
BerandaOptik, instrumentasi & mediaSilicon Wafer X-ray Mirror
Proyek riset & pengembangan

Silicon Wafer X-ray Mirror

Ringkasan tujuan riset

Cermin sinar-X dari wafer silikon meneliti susunan Kirkpatrick–Baez yang ringan, dengan karakterisasi kerataan, penyejajaran wafer, simulasi pelacakan sinar, dan pengujian unit demonstrasi.

Optik, instrumentasi & media1 rujukanProfil diperbarui
Lihat rujukanBandingkan proyek
Linimasa NASA TechPort 14390Periode tercatat 2013-10-01 sampai 2014-09-01. TRL: awal 2, saat akses 4, target 4. Target bukan hasil.NASA TechPort 14390MulaiAkhir tercatat201320152013-10-012014-09-01TRL 1–9Awal2Saat akses4Target4
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan NASA TechPort. Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Proyek mengusulkan wafer silikon sebagai pemantul pada cermin sinar-X tipe Kirkpatrick–Baez. Tim merencanakan desain unit demonstrasi dan kode ray tracing untuk memperkirakan kinerjanya, kemudian memilih wafer tipis dan rata melalui pengukuran interferometer optik. Struktur penahan harus menempatkan wafer secara presisi; bila pemesinan tidak mencukupi, metode penyejajaran tambahan perlu dikembangkan. Kinerja rakitan akan diukur pada berkas sinar-X dan dibandingkan dengan simulasi untuk menentukan pengembangan berikutnya.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi pemimpin
Goddard Space Flight Center
Program
Center Independent Research & Development: GSFC IRAD
Periode proyek
2013-10-01 → 2014-09-01

Klasifikasi NASA

  • TX08.2.1 — Mirror Systems

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status proyek menurut NASACompleted
Awal proyekTRL 2
Tercatat saat aksesTRL 4
Target akhirTRL 4

TRL adalah tingkat kesiapan teknologi yang dilaporkan penerbit, pada skala 1–9. Nilai target akhir menunjukkan sasaran. Status “Completed” berarti proyek telah selesai menurut pencatatan NASA; status tersebut tidak membuktikan bahwa seluruh sasaran kinerja telah tercapai.

Batas informasi

Profil ini menjelaskan ruang lingkup riset dari catatan penerbit. Target pengembangan dan TRL akhir bukan bukti keberhasilan, ketersediaan produk, atau kelayakan penerapan. Tinjauan ahli dan pengujian performa independen belum dilakukan.

Dasar profil

  • NASA TechPort: Silicon Wafer X-ray Mirror ↗

    NASA TechPort · Pembaruan sumber 10/10/18

    Diakses 2026-10-13. Rujukan primer dengan atribusi. Uraian Indonesia adalah parafrasa editorial; hak dokumen dan aset upstream mengikuti pemiliknya.
Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NASA.