Teknologi.Bagian dari ensiklopedia.onlineCari/
BerandaElektronik & semikonduktorSHF:Small: Learning-based Fast Analysis and Fixing for Electromigration Damage
Proyek riset & pengembangan

SHF:Small: Learning-based Fast Analysis and Fixing for Electromigration Damage

Ringkasan tujuan riset

Analisis electromigration full-chip akan memakai physics-informed learning dan optimasi terakselerasi DNN untuk meneliti kerusakan interkoneksi, hotspot, serta estimasi umur power grid VLSI.

Elektronik & semikonduktor1 rujukanProfil diperbarui
Lihat rujukanBandingkan proyek
Linimasa NSF 2305437Periode tercatat 2023-09-01 sampai 2027-08-31.NSF 2305437MulaiAkhir tercatat202320282023-09-012027-08-31
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan National Science Foundation (NSF). Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

PINN/PCNN ditingkatkan untuk stress hydrostatic pada tree interconnect, lalu model menggabungkan IR drop dan Joule heating. Diferensiabilitas DNN mendukung sensitivity calculation serta optimasi sequential linear programming, sementara estimasi hotspot membantu manajemen runtime. Riset menanggapi convergence lambat atau gagal pada PDE besar dan kurangnya sensor suhu; kecepatan analisis serta peningkatan reliability tetap merupakan target metode.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi penerima pada catatan
University of California-Riverside
Program
Software & Hardware Foundation
Periode pendanaan tercatat
2023-09-01 → 2027-08-31

Proyek kolaboratif beberapa institusi diwakili oleh satu catatan penghargaan. Institusi di atas adalah penerima pada catatan tersebut.

Klasifikasi NSF

  • Directorate for Computer and Information Science and Engineering
  • Software & Systems Foundations

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status pendanaan menurut NSFAktif (catatan pendanaan NSF)

Catatan NSF tidak melaporkan tingkat kesiapan teknologi (TRL). Status pendanaan aktif atau berakhir bukan bukti keberhasilan riset.

Batas informasi

Profil merangkum tujuan dan pendekatan dalam abstrak pendanaan NSF. Status pendanaan tidak membuktikan keberhasilan riset, kesiapan teknologi, atau ketersediaan produk. Hasil dan performa belum diverifikasi secara independen; tinjauan ahli belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NSF.