Teknologi.Bagian dari ensiklopedia.onlineCari/
BerandaKomputasi & perangkat lunakCDS&E/Collaborative Research: Machine Learning-Enabled Electronic-to-Mesoscale Modeling Framework for Analyzing Defect Dynamics in Semiconductors under Light
Proyek riset & pengembangan

CDS&E/Collaborative Research: Machine Learning-Enabled Electronic-to-Mesoscale Modeling Framework for Analyzing Defect Dynamics in Semiconductors under Light

Ringkasan tujuan riset

Model elektronik-ke-mesoskala berbasis pembelajaran mesin dikembangkan untuk memprediksi dinamika dislokasi dan deformasi semikonduktor saat terkena cahaya melalui kerangka multiskala.

Komputasi & perangkat lunak1 rujukanProfil diperbarui
Lihat rujukanBandingkan proyek
Linimasa NSF 2347218Periode tercatat 2024-09-01 sampai 2027-08-31.NSF 2347218MulaiAkhir tercatat202420282024-09-012027-08-31
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan National Science Foundation (NSF). Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Perhitungan teori fungsi kerapatan terkendala pada seng sulfida menghasilkan data bagi medan gaya antaratom yang dipengaruhi iluminasi. Model itu diteruskan ke dinamika molekuler serta coarse-grained untuk dislokasi nanometer hingga mikrometer. Hukum mobilitas dan aliran plastis kemudian dirumuskan dari simulasi untuk menafsirkan eksperimen fotoplastisitas. Kerangka menargetkan mekanisme pengerasan atau pelunakan oleh cahaya yang belum jelas, bukan sekadar korelasi data makroskopik.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi penerima pada catatan
Iowa State University
Program
EPSCoR Co-Funding, CDS&E
Periode pendanaan tercatat
2024-09-01 → 2027-08-31

Proyek kolaboratif beberapa institusi diwakili oleh satu catatan penghargaan. Institusi di atas adalah penerima pada catatan tersebut.

Klasifikasi NSF

  • Directorate for Engineering
  • Civil, Mechanical, & Manufacturing Innovation

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status pendanaan menurut NSFAktif (catatan pendanaan NSF)

Catatan NSF tidak melaporkan tingkat kesiapan teknologi (TRL). Status pendanaan aktif atau berakhir bukan bukti keberhasilan riset.

Batas informasi

Profil merangkum tujuan dan pendekatan dalam abstrak pendanaan NSF. Status pendanaan tidak membuktikan keberhasilan riset, kesiapan teknologi, atau ketersediaan produk. Hasil dan performa belum diverifikasi secara independen; tinjauan ahli belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NSF.