Teknologi.Bagian dari ensiklopedia.onlineCari/
BerandaElektronik & semikonduktorERI: Exploration of an Accurate and Efficient Reliability Modeling Technique for Semiconductor Packages Subjected to Dynamic Excitation
Proyek riset & pengembangan

ERI: Exploration of an Accurate and Efficient Reliability Modeling Technique for Semiconductor Packages Subjected to Dynamic Excitation

Ringkasan tujuan riset

Model keandalan kemasan semikonduktor menggunakan uji percepatan dan kendali phase-locked loop untuk menghubungkan getaran nonlinier dengan umur pakai.

Elektronik & semikonduktor1 rujukanProfil diperbarui
Lihat rujukanBandingkan proyek
Linimasa NSF 2501872Periode tercatat 2025-06-15 sampai 2027-05-31.NSF 2501872MulaiAkhir tercatat202520282025-06-152027-05-31
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan National Science Foundation (NSF). Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Kurva backbone nonlinier digunakan untuk menangkap perubahan geometri serta degradasi material saat eksitasi meningkat. Tegangan dan regangan dari model pseudo-nonlinier menjadi dasar inferensi umur, sementara nanoindentasi memeriksa ketidaklinieran material. Contoh numerik serta percobaan kemasan ball grid array menilai hubungan pendekatan eksitasi gaya dan eksitasi dasar, yang penting bagi perangkat pada lingkungan bergetar kuat.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi penerima pada catatan
Lamar University
Program
OE Operations Engineering
Periode pendanaan tercatat
2025-06-15 → 2027-05-31

Proyek kolaboratif beberapa institusi diwakili oleh satu catatan penghargaan. Institusi di atas adalah penerima pada catatan tersebut.

Klasifikasi NSF

  • Directorate for Engineering
  • Civil, Mechanical, & Manufacturing Innovation

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status pendanaan menurut NSFAktif (catatan pendanaan NSF)

Catatan NSF tidak melaporkan tingkat kesiapan teknologi (TRL). Status pendanaan aktif atau berakhir bukan bukti keberhasilan riset.

Batas informasi

Profil merangkum tujuan dan pendekatan dalam abstrak pendanaan NSF. Status pendanaan tidak membuktikan keberhasilan riset, kesiapan teknologi, atau ketersediaan produk. Hasil dan performa belum diverifikasi secara independen; tinjauan ahli belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NSF.